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包裝密封完整性測(cè)試之CCIT方法開(kāi)發(fā)
容器密閉完整性測(cè)試(CCIT)),需要顯示產(chǎn)品整個(gè)生命周期中容器密閉完整性的完整圖片。 包裝完整性驗(yàn)證通常在三個(gè)產(chǎn)品生命周期階段進(jìn)行。 生命周期階段:包括產(chǎn)品包裝系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)和驗(yàn)證,產(chǎn)品的生產(chǎn)地點(diǎn)以及商業(yè)產(chǎn)品的貨架期穩(wěn)定性評(píng)估。 任何泄漏測(cè)試都需要針對(duì)每個(gè)產(chǎn)品包裝應(yīng)用程序進(jìn)行優(yōu)化。所有方法都有局限性,但是在選擇合適的方法時(shí)應(yīng)考慮以下方面: · 方法必須適合其預(yù)期用途 · 方法必須適用于特定
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